Aeris 研究版

可用性与性能相结合,让您的实验室工作达到更高水平 – 更全面的信息和更深入的见解,这样就能更有效地获得结论、完善材料、提高知识、推动科学前沿。

节省出时间做有趣的科学研究

无论您从事哪种项目,从目标样品中快速获取物相信息对于您的研究都至关重要。 您只需使用 Aeries 研究收集 X 射线衍射数据,然后应用 HighScore 软件获取各种结晶信息即可。 测量配置包括反射、透射和掠入射X射线衍射法 (GIXRD),您可以获得任何类型多晶材料的可靠数据。

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