2830 ZT 预安装手册
版本号: 4
2830 ZT 晶圆分析仪
2830 ZT 波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圆分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计，该仪器可为多种晶片（厚达 300 mm）测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。
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User manuals
2830 ZT Pre-installation manual
版本号: 4
2830 ZT User Guide
版本号: 2
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Elemental Analysis Masterclass 3 - The Basics of Sample Preparation for XRF
- 产品:
- 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Axios FAST, Claisse range, Epsilon range, CNA 微量热仪系列, Zetium
- 技术类型:
- X 射线荧光 (XRF), Borate fusion
Elemental Analysis Masterclass 2 - Wavelength & Energy Dispersive XRF Explained
- 产品:
- 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Axios FAST, Claisse range, CNA 微量热仪系列, Epsilon range, Zetium
- 技术类型:
- X 射线荧光 (XRF), Borate fusion
- 行业应用:
- 先进制造, 半导体/电子, 汽车, 建筑材料, 食品和饮料, 金属, 采矿, 法医分析, 油、燃料和化学品, 化学品, 制药, 水处理, 聚合物
Elemental Analysis Masterclass 1 - the theory of X-ray Fluorescence (XRF)
- 产品:
- Zetium, CNA 微量热仪系列, Claisse range, 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Epsilon range, Axios FAST
- 技术类型:
- X 射线荧光 (XRF), Borate fusion
- 行业应用:
- 先进制造, 半导体/电子, 金属, 水处理, 制药, 法医分析, 食品和饮料, 建筑材料, 油、燃料和化学品, 化学品, 采矿, 汽车, 聚合物
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