2830 ZT 预安装手册
版本号: 4
2830 ZT 晶圆分析仪
2830 ZT 波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圆分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计，该仪器可为多种晶片（厚达 300 mm）测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。
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用户手册
2830 ZT Pre-installation manual
版本号: 4
2830 ZT User Guide
版本号: 2
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Malvern Panalytical Future Days: Focus On Semiconductor
- 产品:
- Crystal orientation range, 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), X'Pert3 range
- 技术类型:
- X 射线荧光 (XRF), 动态光散射, 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF), X 射线衍射 (XRD)
- 行业应用:
- 半导体/电子
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