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2830 ZT 晶圆分析仪

2830 ZT 波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圆分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计,该仪器可为多种晶片(厚达 300 mm)测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。

 

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October 2019 | English

Elemental Analysis Masterclass 1 - the theory of X-ray Fluorescence (XRF)

产品:
Zetium, CNA 微量热仪系列, Claisse range, 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Epsilon range, Axios FAST
技术类型:
X 射线荧光 (XRF), Borate fusion
行业应用:
先进制造, 电子/光学, 金属, 水处理, 制药, 法医分析, 食品和饮料, 建筑材料, 油、燃料和化学品, 化学品, 采矿, 汽车, 聚合物
Elemental Analysis Masterclass 1 - the theory of X-ray Fluorescence (XRF)
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October 2019 | English

Elemental Analysis Masterclass 2 - Wavelength & Energy Dispersive XRF Explained

产品:
2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Axios FAST, Claisse range, CNA 微量热仪系列, Epsilon range, Zetium
技术类型:
X 射线荧光 (XRF), Borate fusion
行业应用:
先进制造, 电子/光学, 汽车, 建筑材料, 食品和饮料, 金属, 采矿, 法医分析, 油、燃料和化学品, 化学品, 制药, 水处理, 聚合物
Elemental Analysis Masterclass 2 - Wavelength & Energy Dispersive XRF Explained

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