2830 ZT 预安装手册
版本号: 3
2830 ZT 晶圆分析仪
2830 ZT 波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圆分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计，该仪器可为多种晶片（厚达 300 mm）测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。
下载样本
User manuals
2830 ZT Pre-installation manual
版本号: 3
Software downloads
Please contact support for the latest software version.
支持合同的选项
服务
提升投资回报的解决方案
为确保您的仪器保持好的状态并发挥高性能，马尔文帕纳科提供了广泛的服务。 我们的专业知识和支持服务可确保您的仪器性能。
支持
生命周期服务
- 电话和远程支持
- 预防性维护和检查
- 灵活的客户服务协议
- 硬件和软件升级
- 本地和全球支持
专业知识
帮助您提升工艺价值
- 分析方法
- 咨询服务
培训和教育
- 在现场或我们的能力中心开展培训
- 广泛的基础和高级课程，涵盖产品、应用和软件
分析服务和校准材料
- 专家 (XRF) 分析服务
