SciAps X-555

业界卓越检出限

  • 对银、镉、锡、锑和钡等关键元素实现超低检出限
  • 功能强大的 55 kV X射线管,具有多达 3 种自动射束设置
  • 市场上先进的手持式 XRF 技术

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先进的手持式 XRF 技术

卓越的性能源于先进的手持式 XRF 技术。SciAps X-555 X射线荧光 (XRF) 分析仪配备的 55 kV X射线管可对银、镉、锡、锑和钡等关键元素实现超低检出限。 

多达三种自动光束设置,可确保在从镁到铀的整个元素周期表范围内实现卓越性能。这款分析仪不仅坚固耐用,还配备了先进的软件和出色的散热系统。

业界卓越检出限

为何选择 55 kV X射线管?有效激发轻稀土元素发射线所需的X射线能量介于 40-48 keV 范围内。手持式设备中的典型X射线管最高只能在 50 kV 电压下工作;因此只有极小部分X射线能量可用于激发稀土元素。

通过将X射线管的工作电压提升至 55 kV,可用于激发轻稀土元素及前两种重稀土元素(钆与铕)发射线的X射线能量大约能提升 10 倍。尽管无法将手持式 XRF 的工作电压提升至足以有效测量所有重稀土元素的水平,但 X-555 仪器可提供高灵敏度的钇元素分析——钇是重稀土元素常见的“探途元素”。

X-555 仪器具备优异的屏蔽性能及 4 mm 直径的光束准直功能,可直接用于岩石表面及岩芯。它还可以配备一个联锁测试台,用于安全分析杯装或袋装样品。

提供无干扰 (SiO2) 样品以及含有多种干扰元素、分析难度极高的 OREAS 稀土元素检测值。LOD 基于“背景值以上 3 倍标准差”计算,测试时间为 120 秒。

元素 无干扰 SiO2 样品的 LOD OREAS 实际样品的 LOD
La 13 15
Ce 15 19
Pr 18 34
Nd 27 33
Sm 30 35
60 120*
Gd 90 180*
* 铕和钆的“实际”LOD 为估计值,并非基于 OREAS 样品测定

全球使用:X-555 应用场景

SciAps XRF 分析仪是有史以来极轻的一款分析仪,含电池重量仅不到 3 磅。坚固耐用的航空级铝制机架通过了意外跌落测试和 35 英尺高塔坠落测试。

经过重新设计的外壳具有更高的散热性能,可满足客户对高通量测试的需求。

纤细紧凑的机身设计可深入极为严苛的检测位置,配备 2.7 英寸显示屏,便于从后方查看等级和化学成分。

卓越的轻元素分析性能,可实现镁、铝、硅、磷、硫等元素的超低检出限;同时具备充足功率,对探途元素银、锡、锑及稀土元素等重元素的分析也能达到出色精度。

X-555 配备了可优化灵敏度的专用滤光片——其镉元素检测性能比其他任何 XRF 高出 2 倍!

该仪器搭载业内功率超强的X射线管,检出限性能更卓越,尤其针对镉、银、锡、锑和钡元素表现突出。

与新型 Z-901 铍探测器搭配使用时,还可检测 13 种 EPA 优先控制污染物金属。操作员也可升级 Z-901 锂探测器,使其在检测中纳入锂、硼、碳、氮、氟和钠元素。

下载 X-555 GeoChem 规格表

新一代连接功能、检测数据管理及报告生成功能,可覆盖全系列合规性检测应用(包括 RoHS、无卤素检测、CPSIA 及儿童游乐场含铅涂料检测),这些都是 X-555 的核心优势。

尖端数据管理功能集成到灵活的 Android 系统中,从而实现更高级别的自定义和数据管理功能。 

工作电压为 55 kV,而不是行业典型的 50 kV,这意味着 X-555 对关键“轻”稀土元素及部分“重”稀土元素的分析性能更出色,是全球范围内稀土元素分析的优选设备。

金属分析

用于金属分析和合金制造的分析解决方案
金属分析

土壤分析

在监管规范范围内监测和控制土壤质量
土壤分析

矿业解决方案

提高从勘探到矿物加工的回收率和工艺效率
矿业解决方案

技术指标

重量
2.98 磅(1.35 千克,含电池)
尺寸:
8.5 x 9.5 x 2.4 英寸
显示屏
2.7 英寸高亮度彩色电容式触摸屏,400 MHz 高通 Adreno 306 2D/3D 图形加速器。后置显示屏便于查看结果,在各种环境条件下均清晰可读
电源功率
板载可充电锂离子电池,支持设备内直接充电、外部充电器充电及交流电供电。热插拔功能(最长换电时间 60 秒)
Data Transfer
支持通过 WiFi、蓝牙及 USB 接口连接大多数设备,包括用于 PC 或平板电脑的 SciAps Profile Builder 软件
Security
具有可配置访问权限的受密码保护的多用户支持
Excitation source
5 W X射线管。最大 55 kV,200 uA。金阳极。
检测器
50 mm2 硅漂移检测器(有效面积),在 5.95 锰 Kα 谱线处的半高全宽分辨率 (FWHM) 为 <140 eV。
分析器
1.2GHz ARM Cortex-A53 四核 64/32 位
内存:2GB LPDDR3
存储:16GB eMMC
Pulse processor
12 位,数字化速率 80 MSPS,配备 8K 通道 MCA,通过 USB 2.0 接口实现与主机处理器的高速数据传输
在 FPGA 中实现数字滤波,支持高通量脉冲处理,峰值时间范围为 20 nS - 24 uS
温度范围
在 25% 占空比时为 10F 至 130F(-12C 至 54C)。
法规测试
经过 CE 认证,符合 RoHS 指令,已在 USFDA 注册。符合加拿大 RED 法案要求
应用
稀土元素的土壤和采矿应用
X-Ray filtering
用于光束优化的 6 位滤光片轮
Calibration check
内部 316 不锈钢核查标准件,用于校准验证和波长刻度验证
Quantified elements
32 种元素标准,特定元素因应用场景而异。可根据用户要求添加其他元素
校准类型
基础参数法。对于地球化学与环境土壤应用,用户还可选择“康普顿归一化”方法和/或使用经验导出的校准
Calibration check
外部 316 不锈钢核查标准件,用于校准验证和能量刻度验证

附件

增强您的分析能力

OneBox

任意 Z 系列产品均可与我们行业卓越的 XRF 设备配合使用,实现对元素周期表中所有元素和各种样品的精准分析。电池、线缆、充电器和其他附件均可通用。

  • LIBS:分析 XRF 无法检测的元素:锂、铍、硼、碳、氟、钠等。相比 XRF,镁、钙、钾检测性能更佳。微量分析(100 um 激光光斑)。  
  • XRF:非常适合过渡金属和重金属分析。易于使用,尤其适用于散料、土壤及矿石类物料。
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强大、紧凑的元素分析。

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