XRD-OEM

全自动在线取向和处理晶棒、胚晶和晶锭

  • 完全集成的晶体取向测量头
  • 即使在恶劣环境下也能准确测量
  • 最高的精度和速度

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概述

XRD-OEM 是完全可集成的晶体取向测量头,即使在非常恶劣的环境中也能确保可靠运行和精确测量。

XRD-OEM 将晶体取向计量提升到新的高度。此 X射线衍射系统可经受苛刻的研磨和切割条件,可与任何加工生产线无缝集成,同时确保卓越的精度和速度。

紧凑且互联

XRD-OEM 可轻松集成到任何加工生产线中,实现简化、高效和连续的定向测量,无需在仪器之间传送样品。

稳定可靠

XRD-OEM 经久耐用、适应性强,可用于研磨和切割过程等任何恶劣环境,在确保高生产效率和处理量的同时,还能保持可靠性。

快速而精确

每个样品只需 10 秒钟即可完成测量,XRD-OEM 在保证高生产效率的同时,也不会降低精度,而且由于采用方位扫描方法,可确保其标准偏差小于 0,003°。

便利

XRD-OEM 能够检测几何基准(无论是平面还是凹槽),这在执行切割或研磨前对大型晶棒进行预校准时非常重要。

XRD-OEM 还可测定平面和圆周的晶体取向,应用范围更广。

主要应用

生产和加工

XRD-OEM 的设计充分考虑了您忙碌的生产环境。作为一款在线仪器,它可随时集成到您的自动化高通量环境中,成为测量和处理晶棒、胚晶和晶锭的高效解决方案。其能够测量包括 Si、SiC、GaAs 等在内的一系列化合物半导体材料,并且采用空气冷却、结构紧凑,使其成为一款功能强大且成本效益高的工艺辅助工具。

切割或研磨前的晶棒预校准

XRD-OEM 具有精确的预校准功能,可在进一步处理步骤之前实现精确定位和取向控制。

质量控制

快速取向测量在生产中至关重要,而 XRD-OEM 可快速提供高质量数据。XRD-OEM 能够无缝融入您的新流程或现有自动化流程,帮助您为未来的自动化制造做好准备。

技术指标

缺口规格

Position
0.005°
深度
0.005 mm
Profile angle
< 0.5°

平板规格

直径
0.02 mm
Position
< 0.03°
长度
< 0.3 mm

用户手册

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软件下载

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支持

支持服务 

  • 电话和远程支持
  • 预防性维护和检查
  • 灵活的客户服务协议
  • 性能认证
  • 硬件和软件升级
  • 本地和全球支持

专业知识

  • 元素与结构半导体计量的一站式解决方案
  • 自动化与咨询服务
  • 培训和教育
使用在线 XRD-OEM 实现自动化。

使用在线 XRD-OEM 实现自动化。

即使在具有挑战性的环境中,通过在线 XRD-OEM 也能提升生产效率,对晶体进行出色的质量控制,并优化生产工艺。

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