理解织构是至关重要的。 例如,织构是金属(如钢和铝)生产中的关键参数,以便控制例如机械强度(例如在工具插件中)和成形性的性能。 在矿物学和地质科学中,通过测量岩石的织构来研究地球的变形历史。 分析取向分布有助于理解工件的形成过程。 通过调节薄膜的生长条件,可以优化所需的性能,例如用于硬盘材料或超导导线。

X 射线衍射技术

衍射图中的峰值表示特定取向的某个 (hkl) 反射的强度。 通过倾斜和旋转安装在衍射仪上的样品,可以记录定向球体上的反射强度分布——极图。 已测量一组独立晶体取向的极图时,可以计算微晶的取向分布函数 (ODF)。

发现优选取向

Malvern Panalytical 为 X 射线织构测量提供了一系列解决方案。 配备 Eulerian 支架和 X'Pert³ MRD (XL)Empyrean 系统是材料科学家用来测量各种形状和尺寸样品的极图的理想 X 射线衍射系统。 借助织构软件包,可执行评估测量、取向分布函数的可视化和计算的后续分析。