残余应力分析

残余应力引起材料晶格间距的微小变化，这可由具有非常高灵敏度的 XRD 揭示出来。 

在实践中，样品相对于入射 X 射线束的各种取向下的某点处测量适合的衍射峰的位置。 由此可以确定不同方向上的晶格间距和相关的弹性应变。 

然后，可以考虑材料的弹性常数，根据应变数据计算拉伸应力或压缩应力。

X射线衍射 (XRD) 残余应力分析可应用于各种多晶材料，例如硬化钢、焊接接头或陶瓷。 它可用作质量控制工具，以及用于学术和工业研究。 通常不需要特殊的样品制备。

使用 X 射线衍射 (XRD)，可探测近表面残余应力——通常在几微米的深度。 也可以通过使用掠入射几何来研究具有亚微米厚度的膜和涂层。 该技术还允许进行深度剖析。 

还可以通过使用具有极小光点尺寸的入射 X 射线束在材料表面上映射应力。 另外，还拥有用于测量大块和沉重样品、小型弯曲样品或非平坦样品表面的解决方案。