更好的XRD數據量測 - 樣品製備技巧: 好的樣品製備技巧讓您的XRD數據分析事半功倍 與專家對談系列研討會
X光繞射儀 （XRD） 是一項可揭示原子排列資訊的強大實驗室技術，因此材料研究人員大量使用 XRD 分析各種材料，從粉末繞射到塊材、薄膜和奈米材料的物理特性，包含化學組成、晶體結構、晶粒大小、殘餘應力、優選晶向和薄膜厚度等皆可經由XRD相關實驗來獲得。
精確的XRD 實驗數據在我們發表研究成果時是非常重要的。但是，如何才能得到精確的XRD數據呢？除了需要足夠的繞射強度外，合適的晶粒尺寸以及均勻的空間分布則貢獻了正確的繞射峰相對強度。
在知道了精確XRD數據所需具備的必要條件後，關鍵則是要知道哪些不當的樣品製備方式可能會帶來量測誤差。例如，過度地研磨樣品可能會導致半高寬擴大，而研磨不足則可能導致晶向空間分布不均勻，從而導致失真的繞射峰強度。
在此次網路研討會中，Malvern Panalytical XRD應用專家李秉中博士Plex Lee將分享如何藉由正確的樣品製備技巧讓您的XRD數據分析事半功倍：
- 理想的粉末顆粒大小
- 如何讓樣品分布更均勻分佈
- 研發過程中只能取得微量樣品，該怎麼辦？
- 根據特定樣品類型選擇使用合適的樣品載台
- 獲得最佳樣品製備方法的實用小技巧
演讲嘉宾
- 李秉中博士,台灣應用實驗室主管
李秉中博士近日以應用專家的身分加入Malvern Panalytical X光分析團隊,李博士擁有工程與系統科學博士學位,主要研究領域為奈米科學,薄膜分析,熱電材料以及低溫物理相關主題.他在X光材料分析領域也擁有多年經驗,包含X光繞射分析以及X光螢光分析.在中研院物理所擔任博士後研究以及X光實驗室主任期間,對於各研究團隊所需X光材料分析多有著墨,材料的型態涵蓋粉末,薄膜,單晶繞射以及Rietveld結構精算分析,而領域則含括量子材料,超導材料,磁性薄膜,奈米生物材料等.
常见问题
誰該參加？
- 從事材料表徵分析的研究人員，希望擴展在X光繞射上的知識
- 相關行業包括（但不限於）電池、粉末冶金、水泥、採礦和礦產、環境監測、製藥等領域的研究
- 負責選擇最佳的分析方法的研發或製造的主管們