X光粉末繞射技術導論

在材料分析研究中，樣品的晶體結構組成一直是一門重要的課題，而X光繞射實驗（XRD）則是唯一一種能提供樣品晶體結構資訊的實驗室分析技術。除了晶體結構分析外，XRD亦能幫助判讀化學成分、晶粒尺寸、材料應變、優選晶向和薄膜厚度等資訊。因此材料研究人員經常會應用XRD來分析各式各樣的材料，從X光粉末繞射（XRPD）到固體、薄膜和奈米材料。

想增進您對材料分析和數據判讀的專業能力嗎？參加我們一系列的XRD線上研討會，能幫助您獲得更好的數據。從樣品類型分析，製備，取樣到XRD光學模組配置，實驗的每一個細節都對數據的品質至關重要。而在數據收集後，完善且專業的數據分析則是您的研發決策上不可或缺的一環。

在這次線上研討會中，Malvern Panalytical的資深應用專家Plex Lee博士將為您介紹XRD技術，從布拉格定律的基礎理論到X光繞射的實驗原理，本課程都能為您在XRD應用上奠定良好的基礎。