工厂优化

优化工艺控制。

马尔文帕纳科工艺颗粒测量系统提供必要的实时数据,以便:

  • 对工艺变化的影响进行即时量化。
  • 持续监测关键工艺参数。
  • 立刻发现工艺异常。
  • 为自动化工艺控制提供保障平台。
经验证,能够每周7天、每天24小时可靠运行的马尔文帕纳科工艺颗粒测量系统,可与新建工厂或现有工厂进行高效整合。 快速测量可为工厂在综合优化,甚至是高动态化工艺中,提供必要的详细运行分析。 此类切实可行的工艺分析仪,可通过以下方式创造经济收益:
  • 增加工厂产量。
  • 减少浪费。
  • 降低能耗。
  • 避免意外停机。
  • 改善产品质量。

马尔文帕纳科与加工设备供应商及运营团队共同协作。 分析决窍与应用经验可为各类工艺提供稳健的解决方案并得出需要的可靠数据,从而达成制造目标。

Insitec 在线粒度仪系列仪器

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稳健可靠的实时粒径测量

Parsum在线粒度仪系列

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线内探头使用空间滤波测速技术进行粒度测量

Zetasizer 纳米粒度电位仪系列

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广泛应用的纳米颗粒、胶体、生物分子粒度和颗粒电荷测量系统

Epsilon Xflow

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直接洞悉您的生产过程

技术类型
激光衍射
空间滤波测速技术
能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
动态光散射
光散射
静态光散射法
电泳光散射法