颗粒物对空气质量和公共健康的威胁日益严重。 较小型颗粒物 (PM)（称为 PM2.5 和 PM10 颗粒）尤其具有破坏性。 这些高毒性空气颗粒体积小，通过呼吸便可吸入呼吸系统。 随着人们对这些影响的了解日益加深，政府和监管当局持续实施更严格的控制措施来治理颗粒物空气污染。
为了有效、严格地实施这些限制措施，监管当局需要准确了解空气质量。 这就意味着能够准确地测量特定区域内空气中颗粒物的浓度，并确定这些杂质的来源。 先进的元素分析技术通过更准确地分析空气颗粒，在这方面发挥了重要的作用。
使用 X 射线荧光分析污染源
X 射线荧光 (XRF) 是一种非破坏性技术，用于对空气滤膜中收集的悬浮微粒进行元素分析。 XRF 的主要优点是滤膜可以直接装入光谱仪，而不会分解滤膜材料。 分析后，仍可使用其他空气质量分析技术对样品做进一步分析。
Epsilon 4 的空气质量版本可以根据国际公认的测试方法 EPA IO-3.3 的要求来分析元素浓度。 除了这种高度精确的颗粒物分析外，X射线荧光光谱仪还可以处理 25 毫米至 52 毫米的空气滤膜。
Epsilon 4 可以配备符合 EPA IO-3.3 标准的出厂校准设备，安装后即可进行准确的分析。 如果 10 个位置样品盘不够，马尔文帕纳科还提供具备 60 个位置的自动进样器，可 24 小时运行而无需操作人员干预。
