SciAps X-505

性能、人体工学与价格的完美平衡

SciAps X-505 是体积小巧且轻便的手持式 X射线分析仪。 

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强强联手: SciAps 是 Malvern Panalytical 旗下公司

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概览

SciAps X-505 是体积小巧且轻便的手持式 X射线分析仪。在速度方面,它仅次于 X-550。 

含电池仅重 2.8 磅,集 SciAps X 系列产品的小巧尺寸、极速性能与高精度优势于一身。对包括铝合金在内的所有合金,均能实现快速分析。 

凭借其先进的设计和出色的散热性能,即使在最炎热的气候下,X-505 也能全天不间断运行,不会因过热而停机。

应用场景

NDT-PMI

1 秒内即能够以出色精度完成大多数合金的材料成分鉴别 (PMI)

含电池仅重 2.98 磅 — 材料成分鉴别的大部分工作针对常见不锈钢、铬钼钢、低合金钢,以及高温合金(如镍基、钛基、钴基合金)、超级合金,还有特种合金(如碳化钨、锡铅焊料、锆合金等)。X-505 能够在 1-2 秒内以出色精度完成合金牌号验证与成分分析。

合金应用中的杂质元素检测

可测量镍、铬、铜含量,最低检出限为 0.01%-0.02%,以验证这三种元素的总量是否低于 0.15%。同时还能满足最新要求,即钒 (V) 和铌 (Nb) 含量均需低于 0.02%。

合金应用中的硫化物腐蚀检测

凭借高度优化的内部结构设计,X-505 可测量钢材中低于 0.1% 的硅含量,适用于硫化物腐蚀相关场景。

下载 X-505 合金型号规格表

废料处理

在铝合金分选领域实现重大突破。以往 X射线技术的一大短板便是铝合金分选。这是因为大多数 X射线检测仪对镁元素 (Mg) 的测量效果欠佳,而镁元素分析是实现铝合金准确分选的关键。X-505 在设计上针对镁元素的检测灵敏度进行了优化,因此对硅元素 (Si) 的检测灵敏度也得到了提升。最终,该分析仪能够对多种复杂牌号的铝合金实现精准分选。 

在高温合金与贵金属检测中表现出色

与大多数 XRF 一样,X-505 能够对各类高温合金、不锈钢、红色金属和贵金属进行快速、精准的成分分析

杂质元素

废料处理已不再局限于牌号分选。如今,许多客户还要求对普通钢材、镍合金和铜合金中的杂质元素或残留元素进行分析。X-505 针对常见杂质元素的检出限进行了优化,包括钢材中的铬、镍、铜、钒、铌、钼,镍合金中的铅和铋,以及铜合金中的各类杂质元素。

采矿

目前该仪器也可用于勘探与矿石品位控制应用场景。如需了解我们在勘探与探途元素检测应用方面的元素分析服务详情,欢迎联系我们。SciAps XRF 分析仪已被全球多家大型勘探公司及矿业实验室服务公司采用。也可搭配紧凑型测试台使用,实现闭束操作。

土壤

X-505 可配备土壤环境元素分析功能。该分析套件涵盖 8 种 RCRA 管控金属,以及 12 种 EPA 优先控制污染物金属中的 11 种(铍元素除外 — 需使用我们的 Z-903 LIBS 进行检测)。X-505 符合源远流长的 EPA 方法 6200。

下载 X-505 地质化学型号规格表

RoHS 相关应用

X-505 即将推出 RoHS 及无卤素检测应用程序,可对 RoHS 管控元素(铅、镉、溴、总铬、汞)以及无卤素要求涉及的氯元素进行快速、精准的分析。

下载 X-505 RoHS 规格表

一般分析

您是否有特殊的分析应用需求?X-505 可配备我们的 Empirical App,用户可自行设置特定的射束条件、定义关注的特定元素,并创建自定义校准曲线。对于超出合金、矿石和聚合物常规分析范围的检测需求,X-505 搭配 Empirical App,可针对特殊或专有分析需求提供完全灵活的解决方案。

简单比较:X-550 与 X-505

Premium X-550 和高性能 X-505 型号之间有何区别?  答案很简单:对低原子序数元素(如镁、铝、硅、磷和硫)的测量速度不同。 

在“射束 2”设置(也称作低电压设置)下,X-550 的 X射线功率约为 X-505 或其他手持式 XRF 分析仪的 3 倍。  这意味着镁、铝、硅、磷、硫(以及其他应用中涉及的钾、钙、氯)的测量强度会提升 3 倍,测量速度也随之加快 3 倍。下文列举几个常见示例。

应用 X-550 X-505 备注
测量铝合金中 0.3% 的镁含量 2 秒 7 秒 例如,区分 356 系铝合金与 357 系铝合金。
测量钢材中 0.1% 的硅含量 6 秒(射束 1 模式 1 秒;射束 2 模式 5 秒) 16 秒(射束 1 模式 1 秒;射束 2 模式 15 秒) 硫化物腐蚀场景下,要求钢材中硅含量需大于 0.1%。
测量钢材或不锈钢中的磷与硫的含量 在特定含量水平下,其测量速度约为 X-505 的 3 倍。 -- 实际测试时间取决于磷和硫的具体含量水平。
分析矿石样品中的低原子序数元素 对镁、铝、硅、磷、硫、钙、钾的检测速度为 X-505 的 3 倍。 对这些元素的检测效果优异,速度可与其他高端 XRF 相媲美。 X-550 可更快完成对主要金属、硫化物及杂质磷的检测。

连接功能和 Android 系统

X 系列基于 Google 的 Android 平台打造,可实现全球范围内的实时数据导出功能。 

仪器采用智能手机风格的用户界面,检测结果可通过高亮彩屏清晰呈现,并支持浅色/深色主题切换,确保在任何光照条件下都能获得最佳可视效果。 

仪器内置 Wi-Fi、蓝牙、GPS 及 USB 接口,用户可通过 X-505 型号直接打印、通过邮件发送检测报告,并能连接几乎所有信息管理系统,从而高效处理检测数据与报告。

参数指标

重量
2.98 磅(1.35 千克,含电池)
尺寸:
8.5" x 9.5" x 2.4"
功率
板载可充电锂离子电池,支持设备内直接充电或使用外部充电器充电,采用交流电供电并具备热插拔功能(最长换电时间 60 秒)
显示屏
2.7 英寸彩色电容式触摸屏,搭载 400 MHz 高通 Adreno 306 2D/3D 图形加速器
后置显示屏便于查看结果,在各种环境条件下均清晰可读
Data Transfer
支持通过 WiFi、蓝牙及 USB 接口连接大多数设备,包括 SciAps Profile Builder PC 软件
支持 GPS
可选配云数据管理解决方案
Excitation source
5 W X射线管
典型:40 kV,200 uA 铑阳极和 10 kV,200 uA,适用于合金测试
50 kV,200 uA 金阳极,适用于大多数其他应用
检测器
20 mm2 硅漂移检测器(有效面积),在 5.95 锰 Kα 谱线处的半高全宽分辨率 (FWHM) 为 <140 eV。
X-Ray filtering
用于光束优化的 6 位滤光片轮
Processing electronics and host processor
1.2GHz ARM Cortex-A53 四核 64/32 位
内存:2GB LPDDR3
存储:16GB eMMC
Pulse processor
14 位 ADC,数字化速率 80 MSPS,配备 8K MCA,通过 USB 2.0 接口实现与主机处理器的高速数据传输,在 FPGA 中实现数字滤波,支持高通量脉冲处理,峰值时间范围为 50 nS - 24 uS
校准类型
基础参数法
对于地球化学与环境土壤应用,用户还可选择“康普顿归一化”方法和/或使用经验推导的校准曲线
Calibration check
外部 316 不锈钢核查标准件,用于校准验证和能量刻度验证
温度范围
10 °F 至 130 °F(占空比 25%)
Security
受密码保护的用户级操作权限与管理员级内部设置权限
法规测试
经过 CE 认证,符合 RoHS 指令,已在 USFDA 注册,并且符合加拿大 RED 法案要求。经过 CE 认证,符合 RoHS 指令,已在 USFDA 注册,并且符合加拿大 RED 法案要求。

附件

用户手册

请联系支持人员获取最新的用户手册。

软件下载

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概览

SciAps X-505 是体积小巧且轻便的手持式 X射线分析仪。在速度方面,它仅次于 X-550。 

含电池仅重 2.8 磅,集 SciAps X 系列产品的小巧尺寸、极速性能与高精度优势于一身。对包括铝合金在内的所有合金,均能实现快速分析。 

凭借其先进的设计和出色的散热性能,即使在最炎热的气候下,X-505 也能全天不间断运行,不会因过热而停机。

应用场景

NDT-PMI

1 秒内即能够以出色精度完成大多数合金的材料成分鉴别 (PMI)

含电池仅重 2.98 磅 — 材料成分鉴别的大部分工作针对常见不锈钢、铬钼钢、低合金钢,以及高温合金(如镍基、钛基、钴基合金)、超级合金,还有特种合金(如碳化钨、锡铅焊料、锆合金等)。X-505 能够在 1-2 秒内以出色精度完成合金牌号验证与成分分析。

合金应用中的杂质元素检测

可测量镍、铬、铜含量,最低检出限为 0.01%-0.02%,以验证这三种元素的总量是否低于 0.15%。同时还能满足最新要求,即钒 (V) 和铌 (Nb) 含量均需低于 0.02%。

合金应用中的硫化物腐蚀检测

凭借高度优化的内部结构设计,X-505 可测量钢材中低于 0.1% 的硅含量,适用于硫化物腐蚀相关场景。

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废料处理

在铝合金分选领域实现重大突破。以往 X射线技术的一大短板便是铝合金分选。这是因为大多数 X射线检测仪对镁元素 (Mg) 的测量效果欠佳,而镁元素分析是实现铝合金准确分选的关键。X-505 在设计上针对镁元素的检测灵敏度进行了优化,因此对硅元素 (Si) 的检测灵敏度也得到了提升。最终,该分析仪能够对多种复杂牌号的铝合金实现精准分选。 

在高温合金与贵金属检测中表现出色

与大多数 XRF 一样,X-505 能够对各类高温合金、不锈钢、红色金属和贵金属进行快速、精准的成分分析

杂质元素

废料处理已不再局限于牌号分选。如今,许多客户还要求对普通钢材、镍合金和铜合金中的杂质元素或残留元素进行分析。X-505 针对常见杂质元素的检出限进行了优化,包括钢材中的铬、镍、铜、钒、铌、钼,镍合金中的铅和铋,以及铜合金中的各类杂质元素。

采矿

目前该仪器也可用于勘探与矿石品位控制应用场景。如需了解我们在勘探与探途元素检测应用方面的元素分析服务详情,欢迎联系我们。SciAps XRF 分析仪已被全球多家大型勘探公司及矿业实验室服务公司采用。也可搭配紧凑型测试台使用,实现闭束操作。

土壤

X-505 可配备土壤环境元素分析功能。该分析套件涵盖 8 种 RCRA 管控金属,以及 12 种 EPA 优先控制污染物金属中的 11 种(铍元素除外 — 需使用我们的 Z-903 LIBS 进行检测)。X-505 符合源远流长的 EPA 方法 6200。

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RoHS 相关应用

X-505 即将推出 RoHS 及无卤素检测应用程序,可对 RoHS 管控元素(铅、镉、溴、总铬、汞)以及无卤素要求涉及的氯元素进行快速、精准的分析。

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一般分析

您是否有特殊的分析应用需求?X-505 可配备我们的 Empirical App,用户可自行设置特定的射束条件、定义关注的特定元素,并创建自定义校准曲线。对于超出合金、矿石和聚合物常规分析范围的检测需求,X-505 搭配 Empirical App,可针对特殊或专有分析需求提供完全灵活的解决方案。

简单比较:X-550 与 X-505

Premium X-550 和高性能 X-505 型号之间有何区别?  答案很简单:对低原子序数元素(如镁、铝、硅、磷和硫)的测量速度不同。 

在“射束 2”设置(也称作低电压设置)下,X-550 的 X射线功率约为 X-505 或其他手持式 XRF 分析仪的 3 倍。  这意味着镁、铝、硅、磷、硫(以及其他应用中涉及的钾、钙、氯)的测量强度会提升 3 倍,测量速度也随之加快 3 倍。下文列举几个常见示例。

应用 X-550 X-505 备注
测量铝合金中 0.3% 的镁含量 2 秒 7 秒 例如,区分 356 系铝合金与 357 系铝合金。
测量钢材中 0.1% 的硅含量 6 秒(射束 1 模式 1 秒;射束 2 模式 5 秒) 16 秒(射束 1 模式 1 秒;射束 2 模式 15 秒) 硫化物腐蚀场景下,要求钢材中硅含量需大于 0.1%。
测量钢材或不锈钢中的磷与硫的含量 在特定含量水平下,其测量速度约为 X-505 的 3 倍。 -- 实际测试时间取决于磷和硫的具体含量水平。
分析矿石样品中的低原子序数元素 对镁、铝、硅、磷、硫、钙、钾的检测速度为 X-505 的 3 倍。 对这些元素的检测效果优异,速度可与其他高端 XRF 相媲美。 X-550 可更快完成对主要金属、硫化物及杂质磷的检测。

连接功能和 Android 系统

X 系列基于 Google 的 Android 平台打造,可实现全球范围内的实时数据导出功能。 

仪器采用智能手机风格的用户界面,检测结果可通过高亮彩屏清晰呈现,并支持浅色/深色主题切换,确保在任何光照条件下都能获得最佳可视效果。 

仪器内置 Wi-Fi、蓝牙、GPS 及 USB 接口,用户可通过 X-505 型号直接打印、通过邮件发送检测报告,并能连接几乎所有信息管理系统,从而高效处理检测数据与报告。

参数指标

重量
2.98 磅(1.35 千克,含电池)
尺寸:
8.5" x 9.5" x 2.4"
功率
板载可充电锂离子电池,支持设备内直接充电或使用外部充电器充电,采用交流电供电并具备热插拔功能(最长换电时间 60 秒)
显示屏
2.7 英寸彩色电容式触摸屏,搭载 400 MHz 高通 Adreno 306 2D/3D 图形加速器
后置显示屏便于查看结果,在各种环境条件下均清晰可读
Data Transfer
支持通过 WiFi、蓝牙及 USB 接口连接大多数设备,包括 SciAps Profile Builder PC 软件
支持 GPS
可选配云数据管理解决方案
Excitation source
5 W X射线管
典型:40 kV,200 uA 铑阳极和 10 kV,200 uA,适用于合金测试
50 kV,200 uA 金阳极,适用于大多数其他应用
检测器
20 mm2 硅漂移检测器(有效面积),在 5.95 锰 Kα 谱线处的半高全宽分辨率 (FWHM) 为 <140 eV。
X-Ray filtering
用于光束优化的 6 位滤光片轮
Processing electronics and host processor
1.2GHz ARM Cortex-A53 四核 64/32 位
内存:2GB LPDDR3
存储:16GB eMMC
Pulse processor
14 位 ADC,数字化速率 80 MSPS,配备 8K MCA,通过 USB 2.0 接口实现与主机处理器的高速数据传输,在 FPGA 中实现数字滤波,支持高通量脉冲处理,峰值时间范围为 50 nS - 24 uS
校准类型
基础参数法
对于地球化学与环境土壤应用,用户还可选择“康普顿归一化”方法和/或使用经验推导的校准曲线
Calibration check
外部 316 不锈钢核查标准件,用于校准验证和能量刻度验证
温度范围
10 °F 至 130 °F(占空比 25%)
Security
受密码保护的用户级操作权限与管理员级内部设置权限
法规测试
经过 CE 认证,符合 RoHS 指令,已在 USFDA 注册,并且符合加拿大 RED 法案要求。经过 CE 认证,符合 RoHS 指令,已在 USFDA 注册,并且符合加拿大 RED 法案要求。

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