强强联手： SciAps 是 Malvern Panalytical 旗下公司
SciAps X-505 是体积小巧且轻便的手持式 X射线分析仪。在速度方面，它仅次于 X-550。
含电池仅重 2.8 磅，集 SciAps X 系列产品的小巧尺寸、极速性能与高精度优势于一身。对包括铝合金在内的所有合金，均能实现快速分析。
凭借其先进的设计和出色的散热性能，即使在最炎热的气候下，X-505 也能全天不间断运行，不会因过热而停机。
1 秒内即能够以出色精度完成大多数合金的材料成分鉴别 (PMI)
含电池仅重 2.98 磅 — 材料成分鉴别的大部分工作针对常见不锈钢、铬钼钢、低合金钢，以及高温合金（如镍基、钛基、钴基合金）、超级合金，还有特种合金（如碳化钨、锡铅焊料、锆合金等）。X-505 能够在 1-2 秒内以出色精度完成合金牌号验证与成分分析。
合金应用中的杂质元素检测
可测量镍、铬、铜含量，最低检出限为 0.01%-0.02%，以验证这三种元素的总量是否低于 0.15%。同时还能满足最新要求，即钒 (V) 和铌 (Nb) 含量均需低于 0.02%。
合金应用中的硫化物腐蚀检测
凭借高度优化的内部结构设计，X-505 可测量钢材中低于 0.1% 的硅含量，适用于硫化物腐蚀相关场景。
在铝合金分选领域实现重大突破。以往 X射线技术的一大短板便是铝合金分选。这是因为大多数 X射线检测仪对镁元素 (Mg) 的测量效果欠佳，而镁元素分析是实现铝合金准确分选的关键。X-505 在设计上针对镁元素的检测灵敏度进行了优化，因此对硅元素 (Si) 的检测灵敏度也得到了提升。最终，该分析仪能够对多种复杂牌号的铝合金实现精准分选。
在高温合金与贵金属检测中表现出色
与大多数 XRF 一样，X-505 能够对各类高温合金、不锈钢、红色金属和贵金属进行快速、精准的成分分析
杂质元素
废料处理已不再局限于牌号分选。如今，许多客户还要求对普通钢材、镍合金和铜合金中的杂质元素或残留元素进行分析。X-505 针对常见杂质元素的检出限进行了优化，包括钢材中的铬、镍、铜、钒、铌、钼，镍合金中的铅和铋，以及铜合金中的各类杂质元素。
目前该仪器也可用于勘探与矿石品位控制应用场景。如需了解我们在勘探与探途元素检测应用方面的元素分析服务详情，欢迎联系我们。SciAps XRF 分析仪已被全球多家大型勘探公司及矿业实验室服务公司采用。也可搭配紧凑型测试台使用，实现闭束操作。
X-505 可配备土壤环境元素分析功能。该分析套件涵盖 8 种 RCRA 管控金属，以及 12 种 EPA 优先控制污染物金属中的 11 种（铍元素除外 — 需使用我们的 Z-903 LIBS 进行检测）。X-505 符合源远流长的 EPA 方法 6200。
X-505 即将推出 RoHS 及无卤素检测应用程序，可对 RoHS 管控元素（铅、镉、溴、总铬、汞）以及无卤素要求涉及的氯元素进行快速、精准的分析。
您是否有特殊的分析应用需求？X-505 可配备我们的 Empirical App，用户可自行设置特定的射束条件、定义关注的特定元素，并创建自定义校准曲线。对于超出合金、矿石和聚合物常规分析范围的检测需求，X-505 搭配 Empirical App，可针对特殊或专有分析需求提供完全灵活的解决方案。
Premium X-550 和高性能 X-505 型号之间有何区别？ 答案很简单：对低原子序数元素（如镁、铝、硅、磷和硫）的测量速度不同。
在“射束 2”设置（也称作低电压设置）下，X-550 的 X射线功率约为 X-505 或其他手持式 XRF 分析仪的 3 倍。 这意味着镁、铝、硅、磷、硫（以及其他应用中涉及的钾、钙、氯）的测量强度会提升 3 倍，测量速度也随之加快 3 倍。下文列举几个常见示例。
| 应用 | X-550 | X-505 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 测量铝合金中 0.3% 的镁含量 | 2 秒 | 7 秒 | 例如，区分 356 系铝合金与 357 系铝合金。 |
| 测量钢材中 0.1% 的硅含量 | 6 秒（射束 1 模式 1 秒；射束 2 模式 5 秒） | 16 秒（射束 1 模式 1 秒；射束 2 模式 15 秒） | 硫化物腐蚀场景下，要求钢材中硅含量需大于 0.1%。 |
| 测量钢材或不锈钢中的磷与硫的含量 | 在特定含量水平下，其测量速度约为 X-505 的 3 倍。 | -- | 实际测试时间取决于磷和硫的具体含量水平。 |
| 分析矿石样品中的低原子序数元素 | 对镁、铝、硅、磷、硫、钙、钾的检测速度为 X-505 的 3 倍。 | 对这些元素的检测效果优异，速度可与其他高端 XRF 相媲美。 | X-550 可更快完成对主要金属、硫化物及杂质磷的检测。 |
X 系列基于 Google 的 Android 平台打造，可实现全球范围内的实时数据导出功能。
仪器采用智能手机风格的用户界面，检测结果可通过高亮彩屏清晰呈现，并支持浅色/深色主题切换，确保在任何光照条件下都能获得最佳可视效果。
仪器内置 Wi-Fi、蓝牙、GPS 及 USB 接口，用户可通过 X-505 型号直接打印、通过邮件发送检测报告，并能连接几乎所有信息管理系统，从而高效处理检测数据与报告。
| 重量 | 2.98 磅（1.35 千克，含电池） |
|---|---|
| 尺寸： | 8.5" x 9.5" x 2.4" |
| 功率 | 板载可充电锂离子电池，支持设备内直接充电或使用外部充电器充电，采用交流电供电并具备热插拔功能（最长换电时间 60 秒） |
| 显示屏 | 2.7 英寸彩色电容式触摸屏，搭载 400 MHz 高通 Adreno 306 2D/3D 图形加速器
后置显示屏便于查看结果，在各种环境条件下均清晰可读 |
| Data Transfer | 支持通过 WiFi、蓝牙及 USB 接口连接大多数设备，包括 SciAps Profile Builder PC 软件
支持 GPS 可选配云数据管理解决方案 |
| Excitation source | 5 W X射线管
典型：40 kV，200 uA 铑阳极和 10 kV，200 uA，适用于合金测试 50 kV，200 uA 金阳极，适用于大多数其他应用 |
| 检测器 | 20 mm2 硅漂移检测器（有效面积），在 5.95 锰 Kα 谱线处的半高全宽分辨率 (FWHM) 为 <140 eV。 |
| X-Ray filtering | 用于光束优化的 6 位滤光片轮 |
| Processing electronics and host processor | 1.2GHz ARM Cortex-A53 四核 64/32 位
内存：2GB LPDDR3 存储：16GB eMMC |
| Pulse processor | 14 位 ADC，数字化速率 80 MSPS，配备 8K MCA，通过 USB 2.0 接口实现与主机处理器的高速数据传输，在 FPGA 中实现数字滤波，支持高通量脉冲处理，峰值时间范围为 50 nS - 24 uS |
| 校准类型 | 基础参数法
对于地球化学与环境土壤应用，用户还可选择“康普顿归一化”方法和/或使用经验推导的校准曲线 |
| Calibration check | 外部 316 不锈钢核查标准件，用于校准验证和能量刻度验证 |
| 温度范围 | 10 °F 至 130 °F（占空比 25%） |
| Security | 受密码保护的用户级操作权限与管理员级内部设置权限 |
| 法规测试 | 经过 CE 认证，符合 RoHS 指令，已在 USFDA 注册，并且符合加拿大 RED 法案要求。经过 CE 认证，符合 RoHS 指令，已在 USFDA 注册，并且符合加拿大 RED 法案要求。 |
请联系支持人员获取最新的用户手册。
请联系支持人员获取最新软件版本。
强强联手： SciAps 是 Malvern Panalytical 旗下公司
SciAps X-505 是体积小巧且轻便的手持式 X射线分析仪。在速度方面，它仅次于 X-550。
含电池仅重 2.8 磅，集 SciAps X 系列产品的小巧尺寸、极速性能与高精度优势于一身。对包括铝合金在内的所有合金，均能实现快速分析。
凭借其先进的设计和出色的散热性能，即使在最炎热的气候下，X-505 也能全天不间断运行，不会因过热而停机。
1 秒内即能够以出色精度完成大多数合金的材料成分鉴别 (PMI)
含电池仅重 2.98 磅 — 材料成分鉴别的大部分工作针对常见不锈钢、铬钼钢、低合金钢，以及高温合金（如镍基、钛基、钴基合金）、超级合金，还有特种合金（如碳化钨、锡铅焊料、锆合金等）。X-505 能够在 1-2 秒内以出色精度完成合金牌号验证与成分分析。
合金应用中的杂质元素检测
可测量镍、铬、铜含量，最低检出限为 0.01%-0.02%，以验证这三种元素的总量是否低于 0.15%。同时还能满足最新要求，即钒 (V) 和铌 (Nb) 含量均需低于 0.02%。
合金应用中的硫化物腐蚀检测
凭借高度优化的内部结构设计，X-505 可测量钢材中低于 0.1% 的硅含量，适用于硫化物腐蚀相关场景。
在铝合金分选领域实现重大突破。以往 X射线技术的一大短板便是铝合金分选。这是因为大多数 X射线检测仪对镁元素 (Mg) 的测量效果欠佳，而镁元素分析是实现铝合金准确分选的关键。X-505 在设计上针对镁元素的检测灵敏度进行了优化，因此对硅元素 (Si) 的检测灵敏度也得到了提升。最终，该分析仪能够对多种复杂牌号的铝合金实现精准分选。
在高温合金与贵金属检测中表现出色
与大多数 XRF 一样，X-505 能够对各类高温合金、不锈钢、红色金属和贵金属进行快速、精准的成分分析
杂质元素
废料处理已不再局限于牌号分选。如今，许多客户还要求对普通钢材、镍合金和铜合金中的杂质元素或残留元素进行分析。X-505 针对常见杂质元素的检出限进行了优化，包括钢材中的铬、镍、铜、钒、铌、钼，镍合金中的铅和铋，以及铜合金中的各类杂质元素。
目前该仪器也可用于勘探与矿石品位控制应用场景。如需了解我们在勘探与探途元素检测应用方面的元素分析服务详情，欢迎联系我们。SciAps XRF 分析仪已被全球多家大型勘探公司及矿业实验室服务公司采用。也可搭配紧凑型测试台使用，实现闭束操作。
X-505 可配备土壤环境元素分析功能。该分析套件涵盖 8 种 RCRA 管控金属，以及 12 种 EPA 优先控制污染物金属中的 11 种（铍元素除外 — 需使用我们的 Z-903 LIBS 进行检测）。X-505 符合源远流长的 EPA 方法 6200。
X-505 即将推出 RoHS 及无卤素检测应用程序，可对 RoHS 管控元素（铅、镉、溴、总铬、汞）以及无卤素要求涉及的氯元素进行快速、精准的分析。
您是否有特殊的分析应用需求？X-505 可配备我们的 Empirical App，用户可自行设置特定的射束条件、定义关注的特定元素，并创建自定义校准曲线。对于超出合金、矿石和聚合物常规分析范围的检测需求，X-505 搭配 Empirical App，可针对特殊或专有分析需求提供完全灵活的解决方案。
Premium X-550 和高性能 X-505 型号之间有何区别？ 答案很简单：对低原子序数元素（如镁、铝、硅、磷和硫）的测量速度不同。
在“射束 2”设置（也称作低电压设置）下，X-550 的 X射线功率约为 X-505 或其他手持式 XRF 分析仪的 3 倍。 这意味着镁、铝、硅、磷、硫（以及其他应用中涉及的钾、钙、氯）的测量强度会提升 3 倍，测量速度也随之加快 3 倍。下文列举几个常见示例。
| 应用 | X-550 | X-505 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 测量铝合金中 0.3% 的镁含量 | 2 秒 | 7 秒 | 例如，区分 356 系铝合金与 357 系铝合金。 |
| 测量钢材中 0.1% 的硅含量 | 6 秒（射束 1 模式 1 秒；射束 2 模式 5 秒） | 16 秒（射束 1 模式 1 秒；射束 2 模式 15 秒） | 硫化物腐蚀场景下，要求钢材中硅含量需大于 0.1%。 |
| 测量钢材或不锈钢中的磷与硫的含量 | 在特定含量水平下，其测量速度约为 X-505 的 3 倍。 | -- | 实际测试时间取决于磷和硫的具体含量水平。 |
| 分析矿石样品中的低原子序数元素 | 对镁、铝、硅、磷、硫、钙、钾的检测速度为 X-505 的 3 倍。 | 对这些元素的检测效果优异，速度可与其他高端 XRF 相媲美。 | X-550 可更快完成对主要金属、硫化物及杂质磷的检测。 |
X 系列基于 Google 的 Android 平台打造，可实现全球范围内的实时数据导出功能。
仪器采用智能手机风格的用户界面，检测结果可通过高亮彩屏清晰呈现，并支持浅色/深色主题切换，确保在任何光照条件下都能获得最佳可视效果。
仪器内置 Wi-Fi、蓝牙、GPS 及 USB 接口，用户可通过 X-505 型号直接打印、通过邮件发送检测报告，并能连接几乎所有信息管理系统，从而高效处理检测数据与报告。
| 重量 | 2.98 磅（1.35 千克，含电池） |
|---|---|
| 尺寸： | 8.5" x 9.5" x 2.4" |
| 功率 | 板载可充电锂离子电池，支持设备内直接充电或使用外部充电器充电，采用交流电供电并具备热插拔功能（最长换电时间 60 秒） |
| 显示屏 | 2.7 英寸彩色电容式触摸屏，搭载 400 MHz 高通 Adreno 306 2D/3D 图形加速器
后置显示屏便于查看结果，在各种环境条件下均清晰可读 |
| Data Transfer | 支持通过 WiFi、蓝牙及 USB 接口连接大多数设备，包括 SciAps Profile Builder PC 软件
支持 GPS 可选配云数据管理解决方案 |
| Excitation source | 5 W X射线管
典型：40 kV，200 uA 铑阳极和 10 kV，200 uA，适用于合金测试 50 kV，200 uA 金阳极，适用于大多数其他应用 |
| 检测器 | 20 mm2 硅漂移检测器（有效面积），在 5.95 锰 Kα 谱线处的半高全宽分辨率 (FWHM) 为 <140 eV。 |
| X-Ray filtering | 用于光束优化的 6 位滤光片轮 |
| Processing electronics and host processor | 1.2GHz ARM Cortex-A53 四核 64/32 位
内存：2GB LPDDR3 存储：16GB eMMC |
| Pulse processor | 14 位 ADC，数字化速率 80 MSPS，配备 8K MCA，通过 USB 2.0 接口实现与主机处理器的高速数据传输，在 FPGA 中实现数字滤波，支持高通量脉冲处理，峰值时间范围为 50 nS - 24 uS |
| 校准类型 | 基础参数法
对于地球化学与环境土壤应用，用户还可选择“康普顿归一化”方法和/或使用经验推导的校准曲线 |
| Calibration check | 外部 316 不锈钢核查标准件，用于校准验证和能量刻度验证 |
| 温度范围 | 10 °F 至 130 °F（占空比 25%） |
| Security | 受密码保护的用户级操作权限与管理员级内部设置权限 |
| 法规测试 | 经过 CE 认证，符合 RoHS 指令，已在 USFDA 注册，并且符合加拿大 RED 法案要求。经过 CE 认证，符合 RoHS 指令，已在 USFDA 注册，并且符合加拿大 RED 法案要求。 |
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