Zetasizer纳米粒度电位仪数据解读

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本次网络研讨会介绍了如何更好地了解Zetasizer纳米粒度电位仪的关键参数以及如何获得更佳的测量结果。帮助用户解读测量的关键参数和图表,以及如何在 ZS Xplorer 软件中显示它们。如何识别质量好和质量差的数据,了解可能导致数据质量差的因素,以及如何改进数据质量。

内容概要:

  • DLS概述
  • 评估数据质量的有用参数和图表
  • 解析相关方程
  • 识别重复性差的原因
  • 数据质量引导

演讲嘉宾

李航伟,马尔文帕纳科动态光散射及GPC应用专家