October 22 2020 - Ref No: PR201022

X-射线衍射技术是材料表征的重要手段。随着材料研究的快速发展而产生的越来越多的表征要求,加上XRD技术的不断进步,XRD分析的领域也得到了许多扩展。材料科学工作者可以使用XRD表征与材料结构相关的一系列性质,为材料研究提供大量的信息。

马尔文帕纳公司和昆明理工大学测试中心联合举办本次会议。会议将结合讲稿,以及现场实操视频拍摄的形式,介绍实验室XRD硬射线和散射装置的技术特点、主要应用领域及应用实例,并与听众进行讨论互动。本次技术交流会将就以下两个方面进行交流:

X-射线衍射硬射线分析

使用实验室XRD仪器对以往难以穿透的材料进行硬射线分析,可以做到更全面的材料表征和机理研究。例如软包电池的直接分析可以同时分析正负极材料在充放电时的状态而研究金属离子在负极的扩散时的相互作用。再比如使用硬射线可以在XRD仪器上对样品进行计算机断层扫描(CT)分析。同时使用硬射线为在实验室仪器上进行全散射分析即对分布函数分析(PDF)提供了真实的可能性。

X射线全散射技术的结构分析

随着新材料研究的深入,对其结构表征的需求也在不断的发展,例如纳米结构的表征,非晶态的研究,材料中原子间作用的变化都是研究者感兴趣的领域,而上述的研究经常需要前往同步辐射中心和线站进行。使用硬射线光源和与之匹配的重元素半导体探测器可以在实验室XRD仪器上实现高质量的X-射线全散射结构分析,真正做到既想即做。

会议日程

2020年10月29日

9:30-10:20  实验室XRD硬射线和散射装置的技术要求和特点                   王林博士

10:10-11:00  X-散射技术结构分析在过程机理研究中的应用                    薛石雷先生

11:00-12:00  实验室XRD硬射线和散射装置的分析过程和应用实例           王春建博士

演讲人介绍

王春建 博士/副教授,2005年毕业于昆明理工大学机械工程及自动化系,2006年获得硕博连读资格并与2010年博士毕业于昆明理工大学材料加工工程系,现就职于昆明理工大学分析测试研究中心(云南省分析测试中心),任物理分析室副主任,X射线领域技术负责人等职务。2020年6月特聘为马尔文帕纳科XRD特聘专家。

王林 博士,2004年于清华大学物理系获理学学士,2011年于澳大利亚Uniersity of Wollongong获得博士学位,博士期间研究方向为超导薄膜材料。随后加入帕纳科公司从事XRD应用研究及技术支持,现任马尔文帕纳科中国区XRD产品经理。

薛石雷 先生,从事X射线分析仪的销售管理、应用支持、产品支持等工作超过20年,曾任原帕纳科公司中国区经理,原帕纳科亚太应用实验室经理,马尔文帕纳科交叉业务发展经理等职。现返聘为公司资深顾问及产品专家继续留任工作。

观看方法:

1、PC端

https://live.polyv.cn/watch/1959580 

2、移动端

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