June 01 2020 - Ref No: PR200601

X-射线荧光光谱仪是一种不破坏样品的无损元素分析方法,同时它又具有了浓度范围宽和分析速度快的优点。但XRF使用者在日常工作中经常会为标准样品的制作或寻找而烦恼。近年来随着XRF理论和计算机技术的发展,无标定量方法越来越到得到应用。

因此,为了马尔文帕纳科XRF用户更加熟练掌握无标定量软件Omnian或IQ+的使用以及对XRF软件发展有更多了解,特定于6月9 日举办“X射线荧光光谱软件应用方法讲解”的网络讲座。马尔文帕纳科XRF产品经理熊佳星先生和产品顾问薛石雷先生将分享多年的宝贵经验和应用心得。机会难得,赶快报名吧!

6月9日14:00-15:30

X射线荧光光谱软件应用方法讲解 

  • 无标定量软件Omnian使用讲解
  • 应用数据库软件进行准确定量分析

讲师介绍

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熊佳星  XRF产品经理

2010年毕业于中国科学技术大学,化学物理专业硕士;2012年加入荷兰帕纳科公司,负责其在中国XRF产品的应用及产品工作。


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薛石雷 中国区产品顾问

原任帕纳科亚太区应用实验室经理,交叉业务发展经理。曾在北京化工大学任教和PE公司工作。


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收到报名信息后,我们将核实报名信息并邮件发送马尔文帕纳科直播间链接;如有疑问,请联系 021-80137013