Stratos

测定涂层和多层的成分和厚度

Stratos 软件模块采用的独特算法可通过执行的测量来实现多层膜材料的化学成分和厚度测定。该软件为涂层、表层和多层结构的分析提供了一种快速、简单且无损的方法。Virtual Analyst 针对复杂的堆栈,在测量程序设置期间提供了丰富的信息。 


Stratos 可用于 Epsilon 4 EDXRF 和 Zetium XRF 光谱仪,无论是什么样品类型或基体,均可提供快速可靠的分析结果。

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特点

减轻对分层参考材料的需求

Stratos 软件具有一项出色的优势,就是能让使用便利的批量 XRF 标样或参考样品(其成分和层结构不同于未知材料)进行校准的仪器获得精准的结果。此过程可以解决在获取昂贵且经认证的薄膜标样时出现的常见问题,如果有此类标样可用,则会匹配在半导体晶片和镀层金属的分析当中遇到的生产样品。如果还能使用 Omnian 选件,则可以将 Omnian 的标样和校准直接用于 Stratos。


Virtual Analyst 让方法开发更轻松。

Stratos 软件模块包括 Virtual Analyst,可在高级方法开发当中担当顾问角色。Virtual Analyst 基于样品结构的定义,可对样品的荧光反应进行仿真并为您提供最佳的分析设置,从而消除了设置这些复杂应用通常所需要的、耗时的试错实验。


用于复杂堆栈的高级算法荧光模型

Stratos 使用基本参数来计算每种成分的理论 X 射线强度以及样品的康普顿散射强度。随后,它们将关联到通过参考标样测量的强度,以便获取可成为计算基础的基本仪器系数。为了对未知样品进行表征,将为存在的一个或多个分层输入估算的成分。将会采用重复的精修过程,直至与测量的值严密匹配。

规格

Stratos 有助于在喷涂和包装行业内实现精确的厚度和成分测定。主要优点包括最大程度地利用多层功能、尽可能降低校准成本、实现充分的灵活性,同时在 Virtual Analyst 的助力下采用直观的配方式设置,外加带有自动报告功能的按钮式分析,使其使用变得非常方便。分析不需要操作员干预即可执行,并且可传输至 LIMS,或者通过使用 UAI 传输至工厂的主机系统。结果以元素百分比或质量厚度的形式显示。