AMASS

适用于来自分层结构的 X 射线散射数据的分析工具箱

Advanced Material Analysis and Simulation Software(高级材料分析和仿真软件,简称 AMASS)提供了全面的功能,可用于显示、分析、仿真和拟合分层结构中的 X 射线散射数据。它支持对外延薄层(特别是单晶和强织构薄层样品)进行摇摆曲线、2 轴扫描、倒易空间图分析,以及对任意多层结构进行 X 射线反射仪数据和非镜面(漫射)散射数据分析。该软件可提供丰富的关键信息,例如系数差异和张驰度、成分和层厚度、密度和粗糙度等等。即使是普通用户,也能快速、轻松地对这些基本薄层参数进行量化。 

AMASS Basic 中已涵盖这些功能,并且可通过 HR(高分辨率)和 XRR(X 射线反射)仿真和拟合选项得到扩展。

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特点

AMASS 的主要特点


AMASS Basic 具有除仿真和自动拟合以外的所有功能。

  • 全新的直观图形用户界面。
  • 以项目为导向的文档格式可用于存储、检索和管理工作会话的所有信息,包括打开的扫描、仿真数据、设定的所有参数以及使用的材料参数。
  • 单次扫描、区域图和晶片图的图形显示。
  • 可以合并 1 轴和 2 轴数据集。
  • 可通过 2 轴扫描进行投影并提取数据,然后生成 1 轴扫描以供进一步分析。
  • 可在 1 轴(例如摇摆曲线)和 2 轴(例如倒易空间图)数据中进行自动峰值搜索。
  • 可对基片、多层和边缘进行自动峰值标记。
  • 可在 2 轴数据的标记峰值位置进行自动水平和垂直线提取。
  • 支持任何空间群的材料。
  • 样品结构包括梯度、超晶格和相关参数。
  • 软件可以从标记的峰值位置中提取应力和张驰度、系数差异和成分、基片空切方向和曲率、层镶嵌块分布和横向相关性长度、厚度和超晶格周期等数据。
  • 通过镜面反射率数据确定厚度时,采用的是傅里叶和直接方法。
  • 通过分析任意一组扫描类型,可以创建晶片图。此类分析包括对峰值参数进行分析、通过峰值位置进行分析,以及对自动拟合(如果此选项可用)进行分析。
  • AMASS 支持的数据格式包括 XRDML 格式、简单的 ASCII 格式 (*.asc) 以及旧式 Philips 格式(*.dnn、*.xnn、*.ann 和 *ynn)。
  • 可自定义的结果报告。支持 PDF、RTF、XML 和 HTML 报告。
  • 所有分析均可使用一个命令行界面实现完全自动化。在通过 APP(自动处理程序)进行控制时,可以对从测量到结果报告的整个过程实现自动化。
  • 组件对象模型 (COM) 接口允许通过 PhytonTM 或 Matlab® 等应用程序来操作 AMASS 功能。
  • 两种拟合算法可供选择:允许用户根据独特的拟合要求对软件进行定制。(仅作为选项提供)
  • 针对给定样品模型的每个参数,都能可靠地进行分析。通过执行此分析,可以测量已优化参数的可靠程度。(仅作为选项提供)。
  • HR 选项:
    • 将仿真摇摆曲线拟合到测量的数据
    • 分层可以相对于下层进行部分驰豫。
    • 完全支持纤锌矿结构的非偏振 a 面和 m 面方向。
  • XRR 选项:
    • 将仿真反射曲线拟合到测量的数据。
    • 模型中的参数可以包括具有晶格参数或密度梯度的参数,并有五种梯度类型可供选择。
    • 针对非镜面分析提供了三种界面粗糙度模型:分形、阶梯形和齿形。
    • 可以显示并模拟非镜面(漫射)散射数据(omega、2theta 和 offset omega/2theta 扫描)。该软件可以模拟共面 Qx、Qz 以及非共面 Qx、Qy 倒易空间图。

材料数据库 

丰富的材料数据库包含摇摆曲线分析、晶片映射、仿真及拟合中需要使用的所有材料数据:某些选定氧化物的晶胞参数、泊松比和单晶刚度系数,以及所有常见正方复式半导体材料,外加六方 GaN、AlN 和 InN。此外,它还包含元素原子序数和质量,及其在不同固定 X 射线波长下的质量吸收和异常色散系数。通过添加任何空间群的新结构以及其他波长的材料和值,可以对此数据库进行扩展。可以从结晶信息文件 (CIF) 中导入晶体结构信息和材料。

用户文档

《应用指南》旨在帮助您快速有效地使用 AMASS。在 12 个主题中,每一个都提供了工作实例。这些实例经过精选,可以展示 AMASS 的最重要功能。 

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技术指标

建议的系统配置:

专为在 Windows 10(64 位)和 Windows 11(64 位)Current Branch for Business 操作系统上运行而设计。

符合所需的 Windows 操作系统(最低)硬件要求的 PC 配置足够使用。

当前版本 2.0